AFM-拉曼系统

增强您对纳米尺度结构的了解

AFM/拉曼联用仪器（即SPM-Raman）通过分析材料的化学结构，进一步深化了对亚微米尺度材料的分析研究。

Renishaw已开发了优化的直接耦合技术，使inVia显微拉曼成为与多种SPM联用的理想伙伴，具有针尖增强拉曼散射 (TERS)、近场技术 (SNOM, NSOM) 及拉曼-AFM等能力。

inVia显微拉曼光谱仪已经与NT-MDT和Nanonics imaging 公司的AFM/SPM扫描探头完全整合，提供成功的集成系统。此外，还可以与其它任何SPM或AFM耦合。

用于科研机构和工业的纳米形貌技术及分析系统

实现最高生产力

只有Renishaw与NT-MDT和Nanonics Imaging能够提供完全整合的、真正一体化的AFM-Raman系统。Renishaw的AFM-拉曼系统具有以下优点：

• 集成系统为您省时 — 机械和软件已完全集成，您可以集中精力进行数据采集和分析
• 数据采集速度更快 — 样品和拉曼光谱仪直接耦合在所有配置中实现了效率最优化
• 信任专家 — 第一个TERS测量 (2001) 和第一个拉曼-AFM/NSOM测量 (1995) 都是利用Renishaw拉曼系统完成的
• 放心选择 — Renishaw拥有充分经验和技术能为您集成拉曼和SPM系统

Renishaw拉曼-SPM系统能为您做什么？

AFM与拉曼联用
您可以采集远场，高空间分辨率拉曼数据（通常分辨率为亚微米量级）。拉曼数据可以记录下来并与高空间分辨率形貌、电子、热学和近场光学等数据相互关联。

对石墨烯样品进行拉曼分析（见右图）可识别5种独特的石墨烯厚度，包括单层膜和双层膜区域。拉曼数据用于指导SPM实验，在感兴趣的区域进行形貌、电容和传导测量。

TERS — 针尖增强拉曼（或称无孔径近场拉曼）
一个针尖被用于在样品被激光照亮的较大范围内的极小区域增强拉曼信号。此配置提供拉曼技术中的最高空间分辨率。

TERS所具有的优异空间灵敏度可使用多层材料展示。旁边的图对硅锗上的薄硅层的近场 (TERS) 和远场光谱进行了比较。TERS所具有的优异表面灵敏度使表面硅层的拉曼峰强比频率较高的锗硅层的拉曼峰增强许多。

如需详细了解该科技如何提高您对纳米技术的认识，或了解SPM/AFM与inVia显微拉曼光谱仪联用的信息，请填写在线申请表格，或联络当地的拉曼代表。